mV of additional measurement error due to long term reference drift
由于長期基準(zhǔn)漂移而產(chǎn)生的額外測(cè)量誤差 (單位 mV)
LTC6802 Worst Case Measured bandgap Drift
LTC6802 在最差情況下測(cè)得的帶隙漂移

mV of additional measurement error due to long term reference drift
由于長期基準(zhǔn)漂移而產(chǎn)生的額外測(cè)量誤差 (單位 mV)
Estimated mV Error = X * 3.3. / (SQRT
估計(jì)的 mV 誤差 = X * 3.3/ [√ (小時(shí)/1000)] / 1000
(LTC6802 和其他基于帶隙的 AFE IC)
圖 3:生產(chǎn)之后的測(cè)量誤差。由于真實(shí)世界因素 (a) PCB 組裝應(yīng)力、 (b) 濕度變化、 (c) 所測(cè)得的基準(zhǔn)漂移和 (d) 估計(jì)的長期基準(zhǔn)漂移而產(chǎn)生的 3.3V 電池測(cè)量誤差。
濕度是另一個(gè)考慮因素。潮氣滲進(jìn)塑料封裝,并改變機(jī)械應(yīng)力。對(duì)應(yīng)力敏感的基準(zhǔn)會(huì)出現(xiàn)電壓變化。最后,還有長期漂移。在 IC 封裝組裝過程中,芯片會(huì)受到應(yīng)力。這種應(yīng)力隨著時(shí)間推移而緩慢釋放,導(dǎo)致基準(zhǔn)產(chǎn)生變化。在運(yùn)行數(shù)千小時(shí)以后,這種影響會(huì)減小,這就是長期漂移規(guī)定以 ppm/√kHr 為單位的原因。圖 3 顯示了 3000 小時(shí)以后所測(cè)得的漂移以及預(yù)計(jì) 15 年以后的漂移。
總之,提高電池測(cè)量準(zhǔn)確度可提高性能。就真實(shí)世界應(yīng)用的測(cè)量準(zhǔn)確度而言,采用齊納電壓基準(zhǔn)的 AFE IC 是最佳技術(shù),正如圖 3 中的產(chǎn)品比較所示。
新的隔離式數(shù)據(jù)鏈實(shí)現(xiàn)模塊化電池組
電池組設(shè)計(jì)師受到激勵(lì)開發(fā)模塊化系統(tǒng)。16kW-hr 的電池也許不便于放入汽車內(nèi)的單個(gè)艙中。此外,為了經(jīng)濟(jì)的適用性和保修,8,000 歐元 (10,235 美元) 的電池組可以分成小的模塊。而且,單個(gè)模塊化電池組設(shè)計(jì)可以擴(kuò)大或縮小,以滿足很多不同汽車平臺(tái)的需求。
倘若把一個(gè)大型電池組拆分成若干個(gè)較小的模塊,則會(huì)使電氣連接的設(shè)計(jì)變得復(fù)雜化。在電池模塊和控制電路之間傳輸數(shù)據(jù)需要一個(gè)線束。線束將遭受嚴(yán)重的電磁干擾 (EMI)。必須仔細(xì)注意數(shù)據(jù)通信硬件和軟件。AFE IC 領(lǐng)域的新發(fā)明可以極大地降低數(shù)據(jù)通信的成本,同時(shí)保護(hù)電池組免受 EMI 影響。




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